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  • PTR系列測(cè)試探針

    測(cè)試探針作為探針臺(tái)的核心部件之一，主要用途是接觸連接待測(cè)件電極，為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)導(dǎo)通條件，從不同應(yīng)用場(chǎng)景可分為鎢鋼探針、鎢鋼鍍金探針、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等，被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及光電等行業(yè)的測(cè)試。

    更新日期：2024-06-23
    型號(hào)：PTR系列
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
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