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精密型光電測試探針臺

簡要描述:TLPH系列精密型光電測試探針臺是基于TLRH系列升級激光顯微鏡而來,實現(xiàn)高分辨率成像的同時兼顧外引激光光路,實現(xiàn)光電流與IV的雙功能檢測,是光電芯片/器件測試的理想之選。

  • 產(chǎn)品型號:TLPH系列
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-06-12
  • 瀏覽次數(shù):1040

詳細介紹

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產(chǎn)品介紹

TLPH系列精密型光電測試探針臺是基于TLRH系列升級激光顯微鏡而來,實現(xiàn)高分辨率成像的同時兼顧外引激光光路,實現(xiàn)光電流與IV的雙功能檢測,是光電芯片/器件測試的理想之選。


技術(shù)優(yōu)勢

.模塊化設(shè)計,可以搭配不同構(gòu)件完成不同測試;

. 最大可用于12寸以內(nèi)樣品測試;

.探針臺整體位移精度高達3um,樣品臺精密四維調(diào)節(jié);

. 激光顯微鏡,5檔物鏡轉(zhuǎn)盤,可引入激光完成光電流測試;

. 滿足1um以上電極/PAD使用;

. 漏電精度可達10pA/100fA(屏蔽箱內(nèi));

. 探針座采用進口交叉滾珠導(dǎo)軌,線性移動,無回程差設(shè)計;

. 加寬探針放置架,可放置6個DC探針座/4個RF探針座

. 配顯微鏡三維精密調(diào)節(jié)功能,且可選配多種行程及驅(qū)動方式。


模塊介紹

精密型光電測試探針臺

通用參數(shù)

精密型光電測試探針臺

常規(guī)選型

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電磁屏蔽箱

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應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體材料光電檢測、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、測量表面電阻率測試、精密儀器生產(chǎn)檢測、航空航天實驗等。

譜量光電可根據(jù)客戶實際應(yīng)用需求,定制配套精密型光電測試探針臺,以達更好的測試效果及更高的性價比,具體信息可聯(lián)系詳詢。


 

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