產(chǎn)品中心
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二維平移光譜響應(yīng)度測(cè)試探針臺(tái)是一款專用于半導(dǎo)體材料光電測(cè)試的系統(tǒng)。其功能全面,提供多種重要參數(shù)測(cè)試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描,光電流掃描以及光響應(yīng)速率測(cè)試。
TLRS系列簡(jiǎn)易型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)是我司根據(jù)產(chǎn)業(yè)用戶生產(chǎn)檢測(cè)需要,而特定設(shè)計(jì)的一款簡(jiǎn)易便攜高性價(jià)比探針臺(tái),滿足產(chǎn)線基本電學(xué)參數(shù)測(cè)試同時(shí)兼顧低成本優(yōu)勢(shì),已成為工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域批量檢測(cè)的理想之選。
TLPH系列精密型光電測(cè)試探針臺(tái)是基于TLRH系列升級(jí)激光顯微鏡而來,實(shí)現(xiàn)高分辨率成像的同時(shí)兼顧外引激光光路,實(shí)現(xiàn)光電流與IV的雙功能檢測(cè),是光電芯片/器件測(cè)試的理想之選。
TLRB系列標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)是我司根據(jù)高??蒲屑爱a(chǎn)業(yè)研發(fā)需要,而開發(fā)設(shè)計(jì)的一款高性價(jià)比探針臺(tái)系統(tǒng),其功能齊全,滿足常規(guī)IV電學(xué)測(cè)試需要,廣泛應(yīng)用于芯片、半導(dǎo)體材料/器件等光電相關(guān)領(lǐng)域。
高低溫真空探針臺(tái)系統(tǒng)主要用于為被測(cè)芯片提供一個(gè)低溫或者高溫的變溫測(cè)量環(huán)境,以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件因接觸空氣所帶來的測(cè)試結(jié)果誤差,是材料學(xué)、芯片、半導(dǎo)體器件等方向?qū)嶒?yàn)分析的理想選擇。
TLRB系列標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)是我司根據(jù)高校科研及產(chǎn)業(yè)研發(fā)需要,而開發(fā)設(shè)計(jì)的一款高性價(jià)比探針臺(tái)系統(tǒng),其功能齊全,滿足常規(guī)IV電學(xué)測(cè)試需要,廣泛應(yīng)用于芯片、半導(dǎo)體材料/器件等光電相關(guān)領(lǐng)域。